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标题
64D半自动闭塞测试系统开发(19 卷)
英文标题
Development of 64D Semi-automatic Block Test System
摘要
根据64D半自动闭塞的技术要求和工作原理，设计出一种新的继电半自动闭塞设备的电子化测试系统，并对其硬件和软件设计作了详细说明，同时对该测试系统代替现有的64D半自动闭塞设备进行探讨。该测试系统的设计遵循“故障—安全”原则，保证了系统的安全性和可靠性。
作者
新闻作者:叶一彪，何 涛，吴伟锴
关键字
关键词:半自动闭塞 故障—安全 测试系统 
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